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- F10-RTFilmetrics薄膜厚度測量儀
Filmetrics薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計目標，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM 并進行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀的分析能力。測量結(jié)果能被快速地導出和打印。
- 型號：F10-RT
- 更新日期：2025-09-12 ￥面議
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- F20Filmetrics 單點光學膜厚測量儀
無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?；谀K化設(shè)計的特點，F(xiàn)ilmetrics F20 單點光學膜厚測量儀適用于各種應(yīng)用。
- 型號：F20
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F40Filmetrics 光學膜厚測量儀
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得厚度及光學參數(shù)值。
- 型號：F40
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F50Filmetrics 光學膜厚測量儀自動化MAPPING
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺，以求能夠做成千上萬次測量。
- 型號：F50
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F54-XY-200Filmetrics 自動光學膜厚測量儀
Filmetrics 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數(shù)十種預定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。
- 型號：F54-XY-200
- 更新日期：2025-09-23 ￥面議
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- F20-UV/F20-NIR/F20-EXRFilmetrics F20 白光干涉測厚儀
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀是一款高精度、多功能的測量設(shè)備，能夠快速測定薄膜厚度、光學常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種脆弱或敏感材料，具備納米級分辨率，測量范圍廣（1nm-3mm）。該儀器適用于多種應(yīng)用場景，包括半導體、光學、生物醫(yī)學等領(lǐng)域。F20膜厚儀可在數(shù)秒內(nèi)提供準確的測量結(jié)果，支持單層及多層薄膜分析，為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供可靠支持。
- 型號：F20-UV/F20-NIR/F20-EXR
- 更新日期：2025-09-12 ￥面議
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- K系列Bowman XRF高精度鍍層測量儀
Bowman XRF高精度鍍層測量儀，Bowman博曼 K系列 XRF高精度涂層測量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測量區(qū)域，適用于多種樣品檢測。
- 型號：K系列
- 更新日期：2025-09-23 ￥面議
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- B系列Bowman XRF高精度鍍層測厚儀
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)是博曼的基礎(chǔ)機型和常規(guī)機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現(xiàn)手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內(nèi)的位置來完成測量。
- 型號：B系列
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
