薄膜厚度測量儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。在做測厚的時候要注意以下八點：

　　1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

　　2、在測量的時候要注意，側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

　　3、在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

　　4、在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

　　5、測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

　　6、測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的電鍍膜厚儀檢測儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

　　7、在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。

　　8、在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此薄膜厚度測量儀在進行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

　　二、薄膜厚度測量儀主要功能

　　1、薄膜厚度測量儀適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度；

　　2、可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的探頭使用；

　　3、具有探頭零點校準、兩點校準功能,可對系統(tǒng)誤差進行自動修正；

　　4、已知厚度可以反測聲速，以提高測量精度；

　　5、具有單點測厚和掃描測厚兩種測厚工作模式；

　　6、可預先設(shè)置厚度值上、下限，超出范圍自動報警；

　　7、具有耦合狀態(tài)提示功能；

　　8、有EL背光顯示，方便在光線昏暗環(huán)境中使用；

　　9、有剩余電量指示功能，可實時顯示電池剩余電量；

　　10、薄膜厚度測量儀具有自動休眠、自動關(guān)機等節(jié)電功能；

　　11、帶有RS232接口，可以方便、快捷地與PC機進行數(shù)據(jù)交換和參數(shù)設(shè)定。可以連接到微型打印機(廠家型號)打印測量報告。

　　12、可選擇配備微機軟件，具有傳輸測量結(jié)果、測值存儲管理、測值統(tǒng)計分析、打印測值報告等豐富功能；

　　13、薄膜厚度測量儀密封的金屬外殼，小巧、便攜、可靠性高，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動、沖擊和電磁干擾；薄膜厚度測量儀在測量前要做二點校準和零點校準，二點校準就是把標準膜片放在金屬基片上測試，如果在允許誤差就不需要進行二點測試，如果誤差很大校準結(jié)束后在測試標準片，直到顯示的數(shù)據(jù)正常為止。零點校準就是將機器打開調(diào)到零點校準的模式，在被測工件上測試然后完成就可以。